冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)設(shè)備；能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境。從而判斷產(chǎn)品的可靠性及穩(wěn)定性能等參數(shù)是否合格。將提供給您預(yù)測和改進(jìn)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性依據(jù)。廣泛應(yīng)用于新能源動力，電池，電子，科研等多個領(lǐng)域。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱，滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：

　　GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫

　GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫

GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則

GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)

GJB150.5A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)

　　GJB360B-2009電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法107溫度沖擊試驗(yàn)

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)設(shè)備

主要技術(shù)指標(biāo)
溫度范圍：高溫箱： 60℃～200℃；
低溫箱： 0℃～-70℃；
溫度波動度：±0.5℃;
溫度均勻：±2℃;
升溫速率：≤5℃/min； (全程平均)
降溫速率：≤5℃/min；； (全程平均)
預(yù)冷下限溫度：≤-70℃;
沖擊溫度： 150～-60℃;
樣品架尺寸:150×150mm;
溫度恢復(fù)時間： 5min;
樣品架轉(zhuǎn)換時間：≤10s;
沖擊方式：上下移動提籃式或翻板式
電源：380V±10﹪ 50Hz
高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)為了保證試驗(yàn)箱降溫速率和zui低溫度的要求，本試驗(yàn)箱采用一套 “泰康"全封閉壓縮機(jī)所組成的二元復(fù)疊式風(fēng)冷制冷系統(tǒng)。復(fù)疊制冷系統(tǒng)包含一個高溫制冷循環(huán)和一個低溫制冷循環(huán); 原裝液晶顯示觸控式瑩幕直接按鍵型控制器,中文表示7.5"的圖形之廣視角,高對比附可調(diào)背光功能之大型LCD液晶顯示控制器。